学术报告:先进原子力探针显微分析技术及其在二维层状材料界面研究中的应用

来源:武汉大学物理科学与技术学院    发布时间 : 2017/03/24      点击量:

报告题目:先进原子力探针显微分析技术及其在二维层状材料界面研究中的应用

报 告 人:程志海 研究员 (国家纳米科学中心 中国科学院纳米标准与检测重点实验室)

报告时间:2017年3月31日(周五) 下午3:00

报告地点:新楼5楼多功能厅

报告摘要:

原子层厚度的二维原子晶体具有丰富的新奇物理特性,近年来引起了学术界的广泛研究。与块体材料相比,由于二维原子晶体材料的厚度只有单个或少个原子层厚度,因此其表界面物性对材料整体物性,如化学稳定性、电子结构等,起着至关重要的作用。特别是具有不同性质的二维原子晶体构造的垂直异质结更是二维原子晶体物性研究与器件应用中的核心,然而在纳米尺度上对其界面的电学、力学以及热学等物理性质的研究缺乏有效的研究工具和手段。本次报告,将首先在介绍原子力探针显微分析技术的基础上,进一步讨论基于石英音叉的新型qPlus-AFM显微分析技术及其应用,之后会介绍我们在发展和利用多种先进功能化原子力显微技术,如多频原子力显微术、谐振静电力显微术以及扫描微波显微术等,针对石墨烯非本征折叠界面、CVD生长的样品/基底界面等开展的研究工作,最后会简单讨论一下原子力探针显微技术的未来发展方向。

报告人简介:

程志海,研究员,博士生导师,首届“卓越青年科学家”,卢嘉锡青年人才奖获得者,青年创新促进会会员并获首届“学科交叉与创新奖”等。2002年毕业于大连理工大学物理与光电工程学院应用物理系。2002-2007年,在中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室硕博连读,获凝聚态物理博士学位。2004年7月至2005年1月,在德国柏林自由大学物理系及实验物理研究所做访问学者,2007年8月-2011年7月,在美国加州大学Riverside分校化学系及纳米科学与工程中心从事博士后研究。2011年8月进入国家纳米科学中心工作。在国际有影响力的学术期刊上共发表论文40多篇,其中包括 Science 1篇,Phys. Rev. Lett. 4篇、J. Am. Chem. Soc. 1篇、Nano Letters 4篇等,部分研究结果被Science Magazine、Physical World、Science Daily、Nanotechweb、Nanotechnology Today、Chemical & Engineering News等大量著名科学媒体报道,并入选《自然》杂志的年度图片、《科技日报》国内十大科技新闻、科技部“中国科学十大进展”等,受到了科学界的广泛关注。目前,主要工作集中在先进原子力探针显微分析技术及其在纳米科技领域的应用基础研究。

邀请人:丰敏教授


上一条:学术报告:单个简并腔内的拓扑效应模拟

下一条:学术报告:Interlayer couplings in two-dimensional materials

联系我们

电话:027-68752161

邮箱:phy@whu.edu.cn