学术报告:电子元器件单粒子效应模拟实验技术研究

来源:武汉大学物理科学与技术学院    发布时间 : 2019/09/16      点击量:

报告题目:电子元器件单粒子效应模拟实验技术研究

报告人:郭刚 研究员(中国原子能科学研究院)

报告时间:2019918日(周三)上午10:00-12:00

报告地点:物理学院新楼5楼多功能厅


报告简介:

空间高能粒子与星载器件或系统相互作用引起的单粒子效应,使得器件工作异常,影响到航天器的安全运行和任务达成能力,因此重要器件上星前须经过地面加速器束流模拟实验评估。我们利用HI-13串列加速器和100 MeV质子回旋加速器开展了相关研究工作,促进航天抗辐射加固技术的快速发展,研究团队也发展成为国家级的国防科技工业抗辐照应用技术创新中心。

报告人简介:

郭刚,博士,研究员,博士生导师,1986年四川大学原子核物理专业毕业分配至中国原子能科学研究院工作至今。原子能院辐射效应研究学术带头人,哈尔滨工业大学兼职教授,抗辐射加固技术专家组成员,国防科技工业抗辐照应用技术创新中心副主任,排名第一荣获国防科技进步二等奖2项。




邀请人:陈志权 教授




上一条:学术报告:从物理学的起源谈起

下一条:学术报告:走向原子制造的团簇科学

联系我们

电话:027-68752161

邮箱:phy@whu.edu.cn