面分析类

高分辨X射线衍射仪

来源:武汉大学物理科学与技术学院 发布时间:2015-04-28 11:12:38 点击次数:

设备编号*
09000071
分类编号
03030502
仪器中文名称*
高分辨X射线衍射仪
仪器外文名称
High Resolution X-ray diffraction meteor (HRXRD)
 
仪器规格型号*
Bede D1
仪器总价(元)*
1438002.66
生产厂商*
英国Bede
产地国别*
英国
生产日期
2008
启用日期*
2009.5
所在单位*
物理科学与技术学院
实验室名称
纳米中心
安放详细地址*
物理科学与技术学院3-112
联系人*
吴昊
电话
15971459108
E-mail
H.wu@whu.edu.cn
测试服务标准*
  校内   600 /小时;院内200 /小时;校外800 /小时;
每周开放机时数*
40小时
主要技术指标*
1.8kw 0.5º—100º最小步进角度12角秒
 
主要测试和
研究领域
(多选)*
农业□农产品和食品□林业□土壤■生态环境■,
材料■, 生物医学■医药■石油化工■,   地质矿产■,
珠宝首饰■机械工程■海洋□, 大气物理□, 水文气象□,
公共安全■能源■轻工■电子与测量■计算机□,
有机化学■考古■天文□其它□
主要附件及功能*
配有精密尤拉环:
1.主要进行高质量薄膜及单晶样品测定。包括晶格常数的精确测定,取向关系精确测定。
2.薄膜的掠射研究:配有Goebel镜可得到高强度平行光束,能对多晶薄膜进行物相鉴定、取向分析、晶粒大小测定、薄层次序分析等。
3.薄膜的反射研究:在Goebel镜平行光束照射下,能测量薄膜厚度、密度、表面及界面粗糙度等。
4.织构及应力分析的研究:可用反射法及透射法采集数据,测出完整的极图及不完整极图。
5.薄膜样品外延关系:可以测量倒易空间扫描。
仪器认证情况*
是否共享*
是■,       否□
仪器状态*
正常■,偶有故障□,
故障频繁□,报废□,
闲置□,未启用□,
待修□
服务统计年份
2011年
年对外服务机时
          100(小时)
年对外服务收入
       3000(元)
机组技术人员*
姓名
职称
电话
E-mail
吴昊
副教授
027-68752567
h.wu@whu.edu.cn
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
用户范围
及服务项目*
面对全校及社会全面开放共享,材料的结构测试与分析
主要应用成果
1.       三大检索论文约3篇/年;
2.       年开设本科毕业设计5~8项;研究生毕业(设计)论文2~3项。
3.       年培训上机操作人数5人。
4.       科研课题9项。
5.       社会服务3项。
仪器图片*
(或多媒体信息)
   
 
 
 

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