面分析类

基于捕获阱的正电子束谱仪

来源:武汉大学物理科学与技术学院 发布时间:2015-04-28 11:05:37 点击次数:

 

基于捕获阱的慢正电子束谱仪

设备编号*
05000088/11000118
分类编号
03210221
仪器中文名称*
基于捕获阱的慢正电子束谱仪
仪器外文名称
Trap based slow positron beam
仪器规格型号*
RGM-1/APBS-2
仪器总价(元)*
 
生产厂商*
First Point Inc.
产地国别*
美国
生产日期
2005/2008
启用日期*
2005/9/28、2011/5/30
所在单位*
武汉大学物理科学与技术学院
实验室名称
湖北省核固体物理重点实验室
安放详细地址*
物理科学与技术学院2-209,2-211
联系人*
何春清
电话
158-71433620
E-mail
hecq@whu.edu.cn
测试服务标准*
按样品数   200(本院)/ 300   /个,  按机时数    50(本院)/ 75     /小时
每周开放机时数*
24 hours
主要技术指标*
1) 正电子注入能量 0 keV~30 keV;
2) 直线束正电子束斑 ~ 10 mm; 能量分散~ 1 eV;束流~106e+/s;
3)捕获阱工作时,脉冲方式脉冲宽度可调20ns ~2ms;
储存时间18s; 正电子束斑 ~ 1 mm; 能量分散~ 几十meV;
   单脉冲107e+/s;
4)可聚焦。
主要测试和
研究领域
(多选)*
农业□农产品和食品□林业□土壤□生态环境□,
材料, 生物医学□医药□石油化工□,   地质矿产□,
珠宝首饰□机械工程□海洋□, 大气物理□, 水文气象□,
公共安全□能源□轻工□电子与测量□计算机□,
有机化学□考古□天文□其它
主要附件及功能*
金属、半导体及高分子薄膜材料、表面的缺陷、自由体积、空孔深度:
1)表面、薄膜材料正电子湮没多普勒展宽测量;
2)表面、薄膜材料正电子湮没符合多普勒展宽测量;
3)正电子3伽玛湮没测量;
4)低能正电子物理
仪器认证情况*
 
 
是否共享*
,       否□
仪器状态*
正常□,偶有故障,
故障频繁□,报废□,
闲置□,未启用□,
待修□
服务统计年份
 
年对外服务机时
                  (小时)
年对外服务收入
            (元)
机组技术人员*
姓名
职称
电话
E-mail
何春清
教授
158-71433620
hecq@whu.edu.cn
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
用户范围
及服务项目*
面对全校及社会全面开放共享,薄膜材料的微结构测试与分析
主要应用成果
1.       三大检索论文约20余篇/年;
2.       研究生培养;
3.       培训操作人数10余人。
4.       科研课题10余项。
5.       社会服务多项。
仪器图片*
(或多媒体信息)
   
 
 

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